Pokročilé metéody rastrovacej sondovej mikroskopie na analýzu defektov v perspektívnych anorganických a organických polovodičoch a nanoštruktúrach
Dátum:
Dátum zverejnenia: | 31.07.2013 |
Dátum začatia: | 26.05.2009 |
Dátum ukončenia: | neuvedený |
Identifikácia projektu:
Prijímateľ: | Fyzikálny ústav, SAV |
IČO prijímateľa: | 166537 |
Miesto realizácie: | Bratislava |
Poskytovateľ: | |
Typ poskytnutej pomoci: | nenávratná |
CRP ID: | #23566 |
Cenové plnenie:
Výška pomoci: 6 240,46 €
Vystavil: Agentúra na podporu výskumu a vývoja Zobrazenia: 0x