Pokročilé metéody rastrovacej sondovej mikroskopie na analýzu defektov v perspektívnych anorganických a organických polovodičoch a nanoštruktúrach
Dátum:
| Dátum zverejnenia: | 31.07.2013 |
|---|---|
| Dátum začatia: | 26.05.2009 |
| Dátum ukončenia: | neuvedený |
Identifikácia projektu:
| Prijímateľ: | Fyzikálny ústav, SAV |
|---|---|
| IČO prijímateľa: | 166537 |
| Miesto realizácie: | Bratislava |
| Poskytovateľ: | |
| Typ poskytnutej pomoci: | nenávratná |
| CRP ID: | #23566 |
Cenové plnenie:
Výška pomoci: 6 240,46 €
Zmluvy:
| Zverejnené | Názov zmluvy / č. zmluvy | Cena | Dodávateľ | Objednávateľ |
|---|---|---|---|---|
| ZMLUVA O POSKYTNUTÍ PROSTRIEDKOV č. SK-IT-0020-08 SK-IT-0020-08 |
6 240,46 € | Fyzikálny ústav SAV | Agentúra na podporu výskumu a vývoja |
Vystavil: Agentúra na podporu výskumu a vývoja Zobrazenia: 0x